haku: @keyword x-ray reflectivity / yhteensä: 3
viite: 3 / 3
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Xu, Tingmo |
Työn nimi: | Investigation of Conductive ZnO/Al2O3 Nanolaminates grown by Atomic Layer Deposition |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2007 |
Sivut: | v + 49 Kieli: eng |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Oppiaine: | Optiikka ja molekyylimateriaalit (S-129) |
Valvoja: | Hakkarainen, Teppo |
Ohjaaja: | Tiilikainen, Jouni |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | aluminium oxide atomic layer deposition nanolaminates TML X-ray reflectivity zinc oxide |
ED: | 2008-02-13 |
INSSI tietueen numero: 35303
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI