search query: @keyword / total: 766
reference: 22 / 766
| Author: | Perttilä, Matias |
| Title: | Korkearesistiivisten piikiekkojen radiotaajuisten soveltuvuuksien arvioiminen rekombinaatioelinaikamittauksilla |
| Evaluating radio frequency capabilities of high resistive silicon wafers with recombination lifetime measurements | |
| Publication type: | Master's thesis |
| Publication year: | 2015 |
| Pages: | 10 + 62 Language: fin |
| Department/School: | Sähkötekniikan korkeakoulu |
| Main subject: | Mikro- ja nanotekniikka (S3010) |
| Supervisor: | Halonen, Kari |
| Instructor: | Lempinen, Vesa-Pekka |
| Electronic version URL: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201511205189 |
| Location: | P1 Ark Aalto 3211 | Archive |
| Keywords: | silicon wafer component lifetime network analyzer radio frequency high resistive parasitic surface conductance quality number polysilicon piikiekko parasiittinen pintajohtavuus IPD elinaika korkearesistiivinen radiotaajuus |
| ED: | 2015-11-29 |
INSSI record number: 52529
+ add basket
INSSI