haku: @keyword pattern / yhteensä: 6
hakutulos-lista
viite: 3 / 6
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Järvinen, Juho
Työn nimi:Semiconductor memories and testing methods in telecommunications
Puolijohdemuistit ja niiden käyttö tietoliikenteessä
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:2007
Sivut:84      Kieli:   eng
Koulu/Laitos/Osasto:Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto
Oppiaine:Signaalinkäsittelytekniikka   (S-88)
Valvoja:Skyttä, Jorma
Ohjaaja:Räty, Esko
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark S80     | Arkisto
Avainsanat:memory
testing
pattern
fault
reliability
FPGA
BIST
BISR
muistit
testaus
algoritmit
luotettavuus
FPGA
BIST
BISR
Tiivistelmä (fin): Muistiteknologiat kehittyvät koko ajan, ja kuten muiden puolijohdetuotteiden kanssa, Mooren lain mukana pysyminen on ollut päätavoite viime vuosina.
Tämän seurauksen, bittien määrä muistipiireissä kasvaa vuosi vuodelta, ja insinöörit joutuvat keksimään uusia keinoja välttääkseen ongelmat, joita syntyy viivanleveyden pienentyessä.

Muistien testaus on tärkeä osa valmistusprosessia, mutta pelkkä valmistusvaiheessa tapahtuva testaus ei silti ole aina välttämättä riittävää.
Valmistuksessa aiheutuneet virheet saatetaan huomata välittömästi tai jälkeenpäin, kun muistipiirit ovat joutuneet rasituksen alle.
"Hard-error", eli piirissä oleva pysyvä vika, voi aiheuttaa suuria ongelmia; varsinkin jos se ilmenee vasta muistipiirin asennuksenjälkeen.
Vikaantuneen muistin paikallistaminen voi olla vaikeaa, jos siihen tarkoitettuja työkaluja ei ole järjestelmässä valmiina.

Sisäänrakennettu itsensä testaus (BIST) ja sisäänrakennettu itsensä korjaavuus (BISR) ovat rakenteita, joita yleensä käytetään integroitujen piirien sisäisten muistien testaamiseen ja korjaamiseen.
Integroidun piirin muistin vikaantuminen voi tehdä koko piiristä hyödyttömän, jos vikaa ei voida korjata.
Tässä työssä näitä rakenteita käytetään korvautuvuuden (redundanssi) lisäämiseen ulkoisille muisteille.
Lukijalle selvitetään yleisimmät ja kehittyvät muistiteknologiat, muistivikatyypit, yleisimmät testausalgoritmit muistivikojen selvittämiseen ja tarvittavat työkalut ulkoisten muistien vikojen paikallistamiseen ja korjaamiseen Tellabs 8600 järjestelmässä.
ED:2007-10-19
INSSI tietueen numero: 34767
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI