haku: @supervisor Icheln, Clemens / yhteensä: 7
hakutulos-lista
viite: 7 / 7
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Tölli, Antti
Työn nimi:Development of a high precision measurement setup for the complex permittivity of polymers
Tarkan mittausjärjestelyn kehittäminen polymeerien kompleksiselle permittiivisyydelle
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:2008
Sivut:72 s. + liitt. 5      Kieli:   eng
Koulu/Laitos/Osasto:Radiotieteen ja -tekniikan laitos
Oppiaine:Radiotekniikka   (S-26)
Valvoja:Icheln, Clemens
Ohjaaja:Maier, Marcus
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark S80     | Arkisto
Avainsanat:permittivity measurement at microwave frequencies
cavity resonator method
determining dielectric constant with help of simulations
permittiivisyyden mittaaminen mikroaaltotaajuuksilla
onteloresonaattorimenetelmä
dielektiivisyysvakion määrittäminen simulointien avulla
Tiivistelmä (fin): Tässä diplomityössä suunnitellaan, rakennetaan ja arvioidaan mittausjärjestely polymeerimateriaalien permittiivisyyden selvittämiseksi mikroaaltotaajuuksilla.
Eristeaineissa permittiivisyys määrää radioaallon ja väliaineen väliset vuorovaikutukset.
Onnistuneen suunnittelutuloksen saavuttamiseksi mikroaaltoinsinöörin tarvitsee siksi tietää esimerkiksi piirilevyissä yleisesti käytettyjen eristemateriaalien kompleksinen permittiivisyysarvo tarkasti.

Tuloksille vaaditun 1-2 % suhteellisen epävarmuuden vuoksi käytetään onteloresonaattorimenetelmää.
Resonaattorimenetelmässä permittiivisyyden reaaliosa määritetään resonanssitaajuuden ja imaginääriosa hyvyysluvun muutoksesta, joka mitataan tyhjän ja näytteellä täytetyn resonaattorin väliltä.
Tässä työssä reaaliosa saadaan vertaamalla mitattua taajuusmuutosta vastaavaan simuloimalla saatuun taajuusmuutokseen ja reaaliosaan.
Simulointeja käytetään myös mittaussysteemin suunnittelun apuna.
Käytettävyyssyistä näytetyyppi on pitkä tanko.
Näytteet mitataan noin 3 GHz :n taajuudella messinkisellä sylinteriresonaattorilla, joka toimii aaltomuodolla TM010.

Permittiivisyyden ja ontelomenetelmän perusteiden esittelyn jälkeen tarkastellaan yksityiskohtaisesti tärkeimpiä suunnittelumuuttujia (aaltomuoto, näytetyyppi, mittaustaajuus, kytkentä ja ontelon materiaali) ja perustellaan tehdyt suunnittelupäätökset.
Ontelon säde on yhteydessä mittaustaajuuteen.
Se liittyy myös aaltomuotoon, kuten ontelon korkeuskin.
Korkeus liittyy lisäksi hyvyyslukuun, ja sitä rajoittaa esimerkiksi näytteen pituus.
Näytteen pituutta rajoittaa näytteen säde.
Näytteen säde vaikuttaa ontelon mahdolliseen säteilemiseen jne.
Koska suunnittelumuuttujat liittyvät läheisesti toisiinsa, on hyödyllistä käyttää simulointeja suunnittelussa.
Mainittujen muuttujien simulointien lisäksi kuvaillaan esimerkiksi tehdyt simuloinnit dielektrisen vakion määrittämiseksi.
Sitten esitellään mittaussysteemin tarkistamiseksi tehdyt mittaukset ja esimerkkimateriaalien mittausten tulokset.
Lopuksi tuloksia verrataan laskettuihin teoreettisiin arvoihin, pohditaan niiden välisiä eroja ja arvioidaan mittaustulosten epävarmuutta.

Suunniteltu mittausjärjestely on edullinen, helppokäyttöinen ja sopiva polymeerien dielektrisen valtion mittaamiseen arvioidulla suhteellisella epävarmuudella 1,6 %.
Kuten tämän työn määrittelyissä toivottiin, mittausjärjestelyn käyttö dielektristen häviöiden mittaamiseen on mahdollista, mutta vaatii jatkotutkimuksia.
ED:2008-04-14
INSSI tietueen numero: 35517
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI