haku: @supervisor Räisänen, Antti / yhteensä: 219
hakutulos-lista
viite: 15 / 219
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Khanal, Subash
Työn nimi:Pulsed and transient characterization of THz Schottky diodes
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:2012
Sivut:ix + 51      Kieli:   eng
Koulu/Laitos/Osasto:Radiotieteen ja -tekniikan laitos
Oppiaine:Radiotekniikka   (S-26)
Valvoja:Räisänen, Antti
Ohjaaja:Mallat, Juha ; Kiuru, Tero
Elektroninen julkaisu: http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201211243400
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark Aalto  871   | Arkisto
Avainsanat:Schottky diode parameter extraction
pulsed I-V measurement
thermal characterization
self-heating
time-constant
resistance
Tiivistelmä (eng): Any non-linear electronic device can be used for the purpose of frequency mixing or multiplication.
But when the frequency is very high (in THz band), only few devices can provide acceptable conversion efficiency and low noise performance.
GaAs Schottky barrier diodes are preferred and commonly used in heterodyne receivers as a mixing element.
However, at higher frequencies the diode size is small which reduces its thermal capability and the self-heating is significant even for small current levels.

In this master's thesis different electrical and thermal characterization methods for a diode are reviewed.
Limitations of the DC I-V measurement method are identified and a test is carried out to study the feasibility of a new pulsed system for characterization of THz Schottky diodes.

The military standard method for thermal impedance testing is studied and suitable modifications to the military standard method are proposed.
The transient temperature response of the diode is fitted to an exponential function to extract the junction temperature, thermal impedance and thermal time-constants associated with the internal distribution of thermal resistances and heat capacitances of the diode under test.
ED:2012-11-21
INSSI tietueen numero: 45422
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI