haku: @keyword LID / yhteensä: 3
viite: 3 / 3
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Hyvärinen, Sampo |
Työn nimi: | Valon aiheuttama rappeutuminen monikiteisessä piissä |
Julkaisutyyppi: | Kandidaatintyö |
Julkaisuvuosi: | 2012 |
Sivut: | 22 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkötekniikan korkeakoulu |
Koulutusohjelma: | Elektroniikan ja sähkötekniikan koulutusohjelma |
Oppiaine: | Sähköfysiikka (S3025) |
Valvoja: | Turunen, Markus |
Ohjaaja: | Lindroos, Jeanette |
Elektroninen julkaisu: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201301161159 |
Sijainti: | |
Avainsanat: | Monikiteinen pii LID degradaatio rappeutuminen |
ED: | 2013-05-21 |
INSSI tietueen numero: 46473
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI