haku: @keyword LID / yhteensä: 3
viite: 3 / 3
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Hyvärinen, Sampo
Työn nimi:Valon aiheuttama rappeutuminen monikiteisessä piissä
Julkaisutyyppi:Kandidaatintyö
Julkaisuvuosi:2012
Sivut:22      Kieli:   fin
Koulu/Laitos/Osasto:Sähkötekniikan korkeakoulu
Koulutusohjelma:Elektroniikan ja sähkötekniikan koulutusohjelma
Oppiaine:Sähköfysiikka   (S3025)
Valvoja:Turunen, Markus
Ohjaaja:Lindroos, Jeanette
Elektroninen julkaisu: http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201301161159
Sijainti:  
Avainsanat:Monikiteinen pii
LID
degradaatio
rappeutuminen
ED:2013-05-21
INSSI tietueen numero: 46473
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI