Inssi

Helecon

Asiasanasto

Tenttu

haku: @keyword X-ray reflectivity / yhteensä: 3

viitteet: 1-3 / 3

« edellinen sivu | seuraava sivu »

	otsikko	vuosi	tekijä
1.	Characterization of atomic layer deposition films by x-ray scattering and atomic force microscopy	2012	Ali, Saima
2.	Superhilarakenteiden karakterisointi röntgendiffraktio- ja röntgenheijastusmenetelmillä	2009	Sintonen, Sakari
3.	Investigation of Conductive ZnO/Al2O3 Nanolaminates grown by Atomic Layer Deposition	2007	Xu, Tingmo

« edellinen sivu | seuraava sivu »

INSSI