haku: @keyword mismatch / yhteensä: 1
viite: 1 / 1
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Rintala, Jari |
Työn nimi: | Statistical modelling of bipolar transistors |
Bipolaaritransistorien tilastollinen mallintaminen | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2002 |
Sivut: | xi + 82 s. + liitt. 10 Kieli: eng |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Oppiaine: | Elektronifysiikka (S-69) |
Valvoja: | Kuivalainen, Pekka |
Ohjaaja: | Theqvist, Kristian |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | automatic BJT Gummel-Poon mismatch model parameter principal component analysis process variation statistical modelling transistor measurements transistor model automaattinen vastaamattomuus malliparametri pääkomponenttianalyysi tilastollinen mallintaminen transistorimittaus transistorimalli |
ED: | 2002-12-04 |
INSSI tietueen numero: 19119
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI