haku: @keyword IGBT failure mechanisms / yhteensä: 1
viite: 1 / 1
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Sahlstedt, Jukka |
Työn nimi: | Analysis of IGBT failure due to gate driver malfunction |
IGBT:n vikaantumisen analysointi hilaohjaimen virhetoiminnasta | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2014 |
Sivut: | vii + 66 s. + liitt. 2 Kieli: eng |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkötekniikan ja automaation laitos |
Oppiaine: | Sähkökäytöt (S3016) |
Valvoja: | Ovaska, Seppo |
Ohjaaja: | Turunen, Ari |
Elektroninen julkaisu: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201411042988 |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark Aalto 2352 | Arkisto |
Avainsanat: | IGBT IGBT failure mechanisms gate driver gGate driver malfunction IGBT:n vikaantumismekanismit hilaohjain hilaohjaimen virhetoiminta |
ED: | 2014-11-09 |
INSSI tietueen numero: 50028
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI