haku: @keyword tilastollinen kritisointi / yhteensä: 1
viite: 1 / 1
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Seppälä, Veera Inkeri |
Työn nimi: | Improving the Utilization of Statistical Failure Models in Component Level Testing |
Tilastollisten vikamallien käytön kehittäminen komponenttien testauksessa | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2016 |
Sivut: | 72+9 Kieli: eng |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkötekniikan korkeakoulu |
Oppiaine: | Elektroniikka ja sovellukset (S3007) |
Valvoja: | Paulasto-Kröckel, Mervi |
Ohjaaja: | Kärkäs, Reijo |
Elektroninen julkaisu: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201606172445 |
Sijainti: | P1 Ark Aalto 4262 | Arkisto |
Avainsanat: | PAT MEMS statistical screening testing tilastollinen kritisointi testaus |
ED: | 2016-07-17 |
INSSI tietueen numero: 53877
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI