haku: @author Putkonen, Jyrki / yhteensä: 1
viite: 1 / 1
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Putkonen, Jyrki |
Työn nimi: | Järjestelmä mikromekaanisten piianturien dimensioiden mittaamiseen optisesti |
Optical system to measure dimensions of micromechanical silicon sensors | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 1992 |
Sivut: | 45 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkötekniikan osasto |
Oppiaine: | Mittaustekniikka (Ele-66a) |
Valvoja: | Wallin, Pekka |
Ohjaaja: | Kuisma, Heikki |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | autofocus optical measuring thickness measurement depth profile autofokus optinen mittaaminen paksuusmittaus profiili |
ED: | 1994-04-29 |
INSSI tietueen numero: 7887
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI