haku: @keyword x-ray diffraction / yhteensä: 11
viite: 10 / 11
Tekijä: | Kostamo, Pasi |
Työn nimi: | Monikiteisen piin rakennetutkimus |
Characterization of polycrystalline silicon layers | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2003 |
Sivut: | 55 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Oppiaine: | Optoelektroniikka (S-104) |
Valvoja: | Lipsanen, Harri |
Ohjaaja: | Riikonen, Juha |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | APCVD polysilicon polycrystalline silicon XRD X-ray diffraction APCVD polypii monikiteinen pii röntgendiffraktio XRD |
ED: | 2004-02-06 |
INSSI tietueen numero: 21169
+ lisää koriin
INSSI