haku: @supervisor Sinkkonen, Juha / yhteensä: 110
viite: 13 / 110
Tekijä: | Haarahiltunen, Antti |
Työn nimi: | Sisäisen getteroinnin karakterisointi piissä elektronisuihkun indusoiman virran avulla |
Characterization of internal gettering in silicon by Electron Beam Induced Current | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2002 |
Sivut: | ix + 56 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Oppiaine: | Elektronifysiikka (S-69) |
Valvoja: | Sinkkonen, Juha |
Ohjaaja: | Väinölä, Hele |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | gettering denuded zone (DZ) EBIC diffusion length getterointi virheetön vyöhyke EBIC diffuusiopituus |
ED: | 2002-07-08 |
INSSI tietueen numero: 18820
+ lisää koriin
INSSI