haku: @keyword Automation / yhteensä: 112
viite: 31 / 112
Tekijä: | Dönsberg, Timo |
Työn nimi: | Improved Reference Infrared Spectrometer |
Uudistettu referenssi-infrapunaspektrometri | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2012 |
Sivut: | ix + 77 s. + liitt. 13 Kieli: eng |
Koulu/Laitos/Osasto: | Signaalinkäsittelyn ja akustiikan laitos |
Oppiaine: | Mittaustekniikka (S-108) |
Valvoja: | Ikonen, Erkki |
Ohjaaja: | Manoocheri, Farshid |
Elektroninen julkaisu: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201209213135 |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark Aalto 710 | Arkisto |
Avainsanat: | infrared spectrometer automation linearity photoconductive detector infrapuna spektrometri automaatio lineaarisuus valojohtava ilmaisin |
Tiivistelmä (fin): | Infrapunasäteily on sähkömagneettista säteilyä, jonka aallonpituus on 750 nn - 1 mm. Se on tärkeä työväline optisessa spektroskopiassa, vaikka onkin ihmissilmälle näkymätöntä. Optisella spektrometrillä tarkoitetaan laitetta, joka mittaa materiaalin emissio-, absorptio- tai fluoresenssispektriä. Tässä työssä uudistettiin Aalto-yliopiston Mittaustekniikan ryhmän referenssi-infrapunaspektrometriä. Laitetta käytetään ilmaisimen vasteen, aineen läpäisyn ja lähteen tehojakauman spektrisiin mittauksiin aallonpituusalueella 750 nm - 16 µm. Mittauslaitteisto automatisoitiin käyttäen LabVIEW-ohjelmistoa. Lisäksi kalibrointi- ja mittausmenetelmiä paranneltiin. Automatisoitu mittauslaitteisto soveltuu monipuolisesti erilaisiin mittausjärjestelyihin ja on aiempaa helpompi käyttää. Mittauksissa käytetään vaihelukittua vahvistinta, joka mahdollistaa hyvin heikkojen signaalien havaitsemisen suuren kohinasignaalin läsnäolosta huolimatta. Mitattavaa signaalia moduloidaan katkomalla valolähdettä referenssitaajuudella. Optisen menetelmän sijaan vaihelukitun vahvistimen lineaarisuusmittauksiin kehitettiin täysin sähköinen menetelmä, joka parantaa ulkoista tarkkuutta vertailumittauksissa. Lisäksi osana työtä suunniteltiin, rakennettiin ja karakterisoitiin esivahvistin valojohtaville ilmaisimille. Tavanomaisesta sovitetusta esivahvistimesta poiketen laitteen keskeiset parametrit ovat säädettäviä, joten sitä voidaan käyttää lukuisien eri ilmaisimien kanssa. |
Tiivistelmä (eng): | Infrared radiation is electromagnetic radiation with a spectrum ranging from 750 nm to 1 mm in wavelength. It is invisible to the human eye, but has significance in optical spectroscopy. An optical spectrometer is a device that measures the emission, absorption, or fluorescence spectrum of a material. In this work, a reference infrared spectrometer facility at the Metrology Research Institute was upgraded. The spectrometer can be used to measure spectral responsivity of detectors, spectral transmittance of optical materials and spectral power distribution measurements of light sources in the wavelength range of 750 nm to 16 ?m. The measurement setup was improved for full automation using LabVIEW and the previous calibration and automation procedures were refined. Automated facility is versatile for different measurement setups and is easy to operate. Phase sensitive detection is utilized in the measurement setup by using a lock-in amplifier. It enables the detection of very small signals in the presence of overwhelming noise. Optical chopping is used to modulate the measurement signal at a known reference frequency. Typically the linearity of the measurement system is determined optically. Also in this work, a fully electronic method for linearity measurements of lock-in amplifiers was developed and tested. This method improves the accuracy in lock-in comparison measurements. In addition, a preamplifier for photoconductive detectors was constructed and characterized. The amplifier was designed so that it can be used with wide variety of detectors. |
ED: | 2012-04-25 |
INSSI tietueen numero: 44281
+ lisää koriin
INSSI