haku: @supervisor Lund, Peter / yhteensä: 113
hakutulos-lista
viite: 52 / 113
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Kuurne, Johannes
Työn nimi:Special Topics in Solar Simulator Measurements of Thin Film Modules
Ohutkalvokennojen aurinkosimulaattorimittausten erityispiirteitä
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:2009
Sivut:66      Kieli:   eng
Koulu/Laitos/Osasto:Teknillisen fysiikan laitos
Oppiaine:Ydin- ja energiatekniikka   (Tfy-56)
Valvoja:Lund, Peter
Ohjaaja:Tolvanen, Antti
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark TF80     | Arkisto
Avainsanat:solar simulator
thin film module
aurinkosimulaattori
ohutkalvomoduuli
Tiivistelmä (fin): Aurinkomoduulien tehon mittaamisesta on kasvanut merkittävä toiminta-alue.
Koska moduulit myydään niiden tuottaman tehon perusteella, on tarkkojen ja luotettavien mittausmenetelmien kehitys tärkeää.
Tämän lisäksi kennoteknologian kehittäminen ja suorituskyvyn parantaminen vaatii entistä tarkempia mittauksia.
Etenkin ohutkalvomoduulien mittaukseen liittyy vielä tekijöitä, joiden vaikutusta ei ole täysin ymmärretty.
Tällaisia ovat mittauksen aikana tapahtuvan jännittepyyhkäisyn nopeus, mittauksessa käytetyn valon spektri ja valon aiheuttamat muutokset tehon tuotossa.
Tässä diplomityössä pyrittiin selvittämään näiden tekijöiden vaikutusta aurinkosimulaattorimittausten tuloksiin.

Työ tehtiin Endeas Oyn tiloissa Espoossa kuudella eri ohutkalvomoduulilla.
Työssä käytettiin QuickSun 700A simulaattorin mittauselektroniikkaa.
Jännitepyyhkäisyn nopeuden vaikutusta tutkittiin vaihtelemalla mittausaikaa ulkoolosuhteissa 1-30 ms välillä.
Spektrin aiheuttamaa eroa tutkittiin vertaamalla ulkona ja sisällä mitattuja tuloksia keskenään.
Lisäksi valoaltistuksen aiheuttamia muutoksia moduulien tehon tuotossa pyrittiin selvittämään tutkimalla lyhytaikaisia tehon muutoksia.

CIGS moduulien sisämittausten tulokset vastasivat parhaiten ulkona mitattuja, eikä jännitepyyhkäisyn nopeudella ollut vaikutusta tuloksiin.
CdTe moduuleilla eroa ulkona ja sisällä mitatun tehon välillä oli maksimissaan 2%, mutta pyyhkäisynopeudella ei ollut vaikutusta mitattuun tehoon. a-Si moduuleilla pyyhkäisyn pidentäminen kasvatti mitattua tehoa alle 10 ms:n pyyhkäisyillä. a-Si moduulit ovat herkempiä mittauksessa käytettävälle spektrille.
Tiivistelmä (eng): Accurate and reliable measurement of solar module performance has become an important field of the photovoltaics industry.
Because modules are sold based on their maximum output power the development of measurement accuracy has become crucial.
In addition to this, improving cell and module performance also requires continuous improvements in measurement technology.
In particular, the effect of certain factors on the measurement of thin film solar modules have not been completely understood.
Most important of these factors are the voltage sweep rate during a measurement, the spectrum of light used in a measurement and behavior under prolonged exposure to light.
In this work we aim to study the effects of these factors on the outcome of the measurements.

The work was carried out at the premesis of Endeas Oy in Espoo using 6 thin film modules.
QuickSun 700A electronics were used in measurements both indoors and outdoors.
The effects of voltage sweep rate was studied by varying measurement times from 1-30ms.
Spectral effects were investigated by comparing results of outdoor and indoor measurements.
Modules were also light soaked at different stages during measurements to observe reversible changes in power caused by exposure to light.

Indoor measurements of the CIGS modules gave very similar results to the outdoor measurements, and sweep rate did not have an effect on these results.
For CdTe modules varying sweep rate did not change measured power but a difference of 2%, at most, in outdoor and indoor results was caused by spectral mismatch.
Increasing sweep time increased the measured power of a-Si modules with sweep times below 10 ms. a-Si modules are also more sensitive to the used spectrum.
ED:2009-08-27
INSSI tietueen numero: 38179
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI