haku: @keyword lämpötilariippuvuus / yhteensä: 12
hakutulos-lista
viite: 8 / 12
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Holmberg, Heikki
Työn nimi:Temperature dependence of charge carrier lifetime in silicon
Varauksenkuljettajien elinajan lämpötilariippuvuus piissä
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:2002
Sivut:ix + 64 s. + liitt. 9      Kieli:   eng
Koulu/Laitos/Osasto:Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto
Oppiaine:Elektronifysiikka   (S-69)
Valvoja:Sinkkonen, Juha
Ohjaaja:Yli-Koski, Marko
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark S80     | Arkisto
Avainsanat:temperature dependence
charge carrier lifetime
capture cross-section and iron-boron pair
lämpötilariippuvuus
varauksenkuljettajien elinaika
sieppaus pinta-ala ja rauta-boori pari
Tiivistelmä (fin):Diplomityö käsittelee lämpötilariippuvaa varauksenkuljettajien elinaikamittausta ja sen sopivuutta epäpuhtauksien havaitsemiseen.
Vähäinenkin määrä epäpuhtautta aiheuttaa elinaikaan muutoksen, joka on helppo havaita.
Tutkimuksessa elinaikaa mitattiin µ-PCD (microwave photoconductive decay) mittausmenetelmällä.
Mittausmenetelmän hyvänä puolena on kontaktittomuus, jonka ansiosta näyte ei tuhoudu mittauksen aikana.

Lämpötilariippuvalla µ-PCD menetelmällä pystytään määrittämään epäpuhtauden energiatason paikka kielletyssä energiavälissä.
Mittaus mahdollistaa epäpuhtauden tunnistamisen, koska jokaisella epäpuhtaudella on tarkasti määritelty paikka tai paikat kielletystä energiavyössä.
Työssä esitellään myös elinaikaan vaikuttavien suureiden lämpötilariippuvuus.

Mittaustulosten ja teorian vertaamisen helpottamiseksi tehtiin tietokoneohjelma Matlabilla.
Ohjelma tekee mittaustulosten ja teorian vertaamisen helpoksi.
Ohjelma mahdollistaa elinajan laskemisen lämpötilan funktiona erilaisten reunaehtojen vallitessa.
Ohjelma laskee epäpuhtauden energiatason mittaustuloksista, jos reunaehdot ovat sopivat.
Erikoisominaisuutena ohjelmassa on kyky määrittää elinajan lämpötilariippuvuus, kun epäpuhtaudella on kaksi rekombinaatiokeskusta.

Diplomityössä esitellään uusi menetelmä, jonka avulla voidaan erikoistapauksessa määrittää lämpötila riippuva sieppauspinta-ala varauksenkuljettajille.
Menetelmä perustuu siihen tosiasiaan, että Shockley-Hall-Read elinaika on vakio matalissa lämpötiloissa.
Diplomityössä menetelmällä määritetään lämpötila riippuvan rauta-boori parin elektronien sieppauspinta-ala.
ED:2002-10-11
INSSI tietueen numero: 19019
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI