haku: @keyword Flip chip / yhteensä: 15
viite: 14 / 15
Tekijä: | Schulman, Tom |
Työn nimi: | Digital X-ray Imaging with Si and CdZnTe Pixel Detectors |
Digitaalinen röntgenkuvaus Si- ja CdZnTe-pikseli-ilmaisimilla | |
Julkaisutyyppi: | Lisensiaatintutkimus |
Julkaisuvuosi: | 1999 |
Sivut: | v + 40 s. + liitt. 18 Kieli: eng |
Koulu/Laitos/Osasto: | Teknillisen fysiikan ja matematiikan osasto |
Oppiaine: | Materiaalifysiikka (Tfy-44) |
Valvoja: | Salomaa, Martti |
Ohjaaja: | Spartiotis, Konstantinos |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark TF80 | Arkisto |
Avainsanat: | X-ray imaging pixel detectors CdZnTe flip chip röntgenkuvaus pikseli-ilmaisin nystybondaus |
ED: | 2000-01-10 |
INSSI tietueen numero: 15078
+ lisää koriin
INSSI