haku: @keyword near-field optics / yhteensä: 2
hakutulos-lista
viite: 1 / 2
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Lindfors, Klas
Työn nimi:Scanning near-field optical microscopy: Probe fabrication and test measurements
Optinen lähikenttämikroskopia: Mittakärkien valmistus ja testimittauksia
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:1998
Sivut:68      Kieli:   eng
Koulu/Laitos/Osasto:Teknillisen fysiikan ja matematiikan osasto
Oppiaine:Materiaalifysiikka   (Tfy-44)
Valvoja:Salomaa, Martti M.
Ohjaaja:Aminoff, Carl Gustaf ; Kaivola, Matti
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark TF80     | Arkisto
Avainsanat:near-field optics
optical-fibre probe
vacuum coating
SNOM
lähikettäoptiikka
optinen kuitukärki
tyhjöhöyrytys
Tiivistelmä (fin):Tämän työn tavoitteena on kehittää optisessa lähikenttämikroskopiassa (SNOM) käytettävien kuitukärkien valmistusprosessi ja käyttää valmistettuja kärkiä testimittauksissa.
Testimittausten tavoitteena on osoittaa mittakärkien toimivuus ja esittää kuinka valon aallonpituutta pienempiä rakenteita voidaan tutkia SNOM:lla.

Työ tehdään Teknillisen korkeakoulun Materiaalifysiikan laboratoriossa käyttäen mikropipettien vetolaitetta ja Optoelektroniikan laboratorion tyhjöhöyrystyslaitetta.
Testimittaukset suoritetaan Materiaalifysiikan laboratoriossa olevalla kaupallisella lähikenttämikroskoopilla.

Mikropipettien vetolaitteella vedetään yksimuotoisesta optisesta kuidusta teräviä kärkiä, jotka sen jälkeen päällystetään sivuilta alumiinilla käyttäen tyhjöhöyrystystä.
Sopivassa höyrystysgeometriassa kärkeen saadaan jäämään aallonpituutta pienempi aukko, jota voidaan käyttää mittakärkenä siirtämään korkearesoluutioista tietoa tutkittavan pinnan läheisyydestä kaukokenttään.
Työssä tutkitaan mahdollisuuksia tarkkaan hallita kuitukärjen muotoa; tämä todetaan erittäin vaikeaksi, jopa mahdottomaksi.
Tyhjöhöyrystyksessä kokeillaan kahta erilaista lähdettä ja todetaan, että tehokkaampi elektronisuihkuun perustuva laite ei sovellu mittakärkien valmistamiseen.
Heikompitehoisen, resistiiviseen kuumennuksen perustuvan lähteen kanssa toimiva pyörivä kuitupidin suunnitellaan.
Lisäksi määritetään sopivat höyrystysparametrit resistiivisen lähteen käyttöön.

Valmistettuja mittakärkiä käytetään testimittauksiin kahdella eri näytteellä.
Ensimmäinen näyte on metalloitu pintaprofiilihila, jota tutkitaan kolmella erityyppisellä mittakärjellä.
Mittaukset suoritetaan sekä itsetehdyillä että myös kaupallisilla päällystetyillä mittakärjillä ja itsetehdyillä päällystämättömillä kärjillä.
Päällystetyillä mittakärjillä tehdyt mittaukset osoittavat, että sekä kaupallisilla että itsetehdyillä kärjillä on sama resoluutio.
Mittaukset päällystämättömillä kuiduilla kuitenkin viittaavat siihen, että suurin osa päällystetyillä kuiduilla mitatusta rakenteesta on pinnan topografian aiheuttamaa harhaa.

Toisena testinäytteenä käytetään GaAs-AlAs kvanttikaivorakennetta, jossa pitäisi esiintyä ainoastaan optinen rakenne ilman topografiaa.
Testimittausten mukaan rakenteen pinta ei kuitenkaan ole tässä tasainen.
Mittausten perusteella voidaan jälleen todeta, että itsetehtyjen ja kaupallisten mittakärkien tuloksissa ei juuri ole eroja.
Lisäksi näillä mittauksilla voidaan osoittaa mahdollisuus tutkia aallonpituutta pienempiä rakenteita suurella tarkkuudella käyttäen optista lähikenttämikroskopiaa.
ED:1999-02-08
INSSI tietueen numero: 13985
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI