haku: @keyword XRF-analyysi / yhteensä: 2
viite: 2 / 2
« edellinen | seuraava »
| Tekijä: | Remes, Antti |
| Työn nimi: | XRF-analysaattorin tarkkuuden ja näytteenottotaajuuden vaikutus säädön hyvyyteen vaahdotusprosessissa |
| Effects of the XRF analyzer accurancy and sampling frequency on the control performance of flotation | |
| Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
| Julkaisuvuosi: | 2001 |
| Sivut: | xii + 127 s. + liitt. Kieli: fin |
| Koulu/Laitos/Osasto: | Kemian tekniikan osasto |
| Oppiaine: | Prosessien ohjaus ja hallinta (Kem-90) |
| Valvoja: | Jämsä-Jounela, Sirkka-Liisa |
| Ohjaaja: | Kongas, Matti ; Saloheimo, Kari |
| OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
| Sijainti: | P1 Ark TKK 4266 | Arkisto |
| Avainsanat: | measurement accuracy sampling frequency XRF analysis flotation process mittaustarkkuus näytteenottotaajuus XRF-analyysi vaahdotusprosessi |
| ED: | 2002-01-11 |
INSSI tietueen numero: 18212
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI