haku: @keyword efektiivinen pinta-ala / yhteensä: 2
viite: 1 / 2
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Kesänen, Ari |
Työn nimi: | Effective Area of Optical Fiber by Far-Field Scanning |
Optisen kuidun efektiivinen pinta-ala kaukokenttämittauksella | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2006 |
Sivut: | 54 Kieli: eng |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Oppiaine: | Mittaustekniikka (S-108) |
Valvoja: | Ikonen, Erkki |
Ohjaaja: | Lamminpää, Antti ; Hieta, Tuomas |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | effective area far-field scanning nonlinear coefficient optical field distribution single mode fiber optics efektiivinen pinta-ala kaukokenttämittaus epälineaarinen taitekerroin optisen kentän intensiteettijakauma yksimuotovalokuitu |
Tiivistelmä (fin): | Aallonpituusjakoisen kanavoinnin myötä optisten tietoliikenneverkkojen suorituskyky on kasvanut rajusti. Kanavien siirtonopeuksien kasvattaminen ja lukuisten kanavien sovittaminen yhteen kuituun on tehokas tapa kasvattaa kokonaiskaistanleveyttä. Useiden kanavien optisten tehojen summautuminen sekä pienentyneet kanavavälit voivat kuitenkin voimistaa epälineaariset ilmiöt haitalliselle tasolle. Suurin osa epälineaarisista ilmiöistä johtuu taitekertoimen intensiteettiriippuvuudesta. Taitekertoimen intensiteettiriippuvaa osaa kutsutaan epälineaariseksi taitekertoimeksi n2. Epälineaarista taitekerrointa ei voida suoraan mitata, mutta se on laskettavissa mitattavissa olevan epälineaarisen kertoimen n2/Aeff kautta. Aeff, eli efektiivinen pinta-ala, on kuidussa etenevän optisen kentän poikkileikkauksen koon määrittävä parametri. Efektiivisen pinta-alan käsitteen ymmärtäminen edellyttää, että valon poikittaissuuntainen jakauma kuidun sisällä tunnetaan. Kenttäjakaumaa tarkasteltiin Maxwellin yhtälöiden valossa. Optisen kuidun efektiivistä pinta-alaa voidaan tutkia lukuisilla kuidun päästä säteilevän kentän mittaamiseen perustuvilla menetelmillä. Tässä työssä käytettiin kansainvälisen tietoliikenneliiton standardoimaa (ITU-T G.650.2) kaukokenttämittausmenetelmää. Mittausjärjestelyssä InGaAs-valoilmaisin kiinnitettiin tarkan kääntöpöydän päälle ja testattavan kuidun säteilykuvio mitattiin yhdessä tasossa. Ennen efektiivisen pinta-alan laskemista kaukokentän intensiteettijakauma täytyy muuntaa vastaavaksi lähikentän jakaumaksi käyttäen Hankelin käänteismuunnosta. Efektiivinen pinta-ala voidaan estimoida myös muotokentän halkaisijan (MFD) avulla. MFD:n määritelmässä käytetyn Gaussin approksimaation vuoksi tämä estimaatti on kuitenkin jossain määrin virheellinen. Tämä virhe voidaan kuitenkin korjata sopivaa korjauskerrointa (kNam) käyttämällä. Tässä työssä myös kNam laskettiin kullekin testattavalle kuidulle efektiivisen pinta-alan ja MFD:n lisäksi. Testattavana oli kolme erilaista kuitua: standardi yksimuotokuitu (SMF), nollasta eroavan dispersion omaava yksimuotokuitu (NZ-DSF), ja suuren efektiivisen pinta-alan omaava NZ-DSF. Mittaukset tehtiin sekä 1310 nm että 1550 nm aallonpituusalueilla. Mittausepävarmuudeksi (k = 2) saatiin - 4 % Aeff:n osalta ja - 2 % MFD:n osalta. |
ED: | 2007-01-10 |
INSSI tietueen numero: 32858
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI