haku: @instructor Niini, Ilkka / yhteensä: 2
viite: 2 / 2
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Tuominen, Valtteri |
Työn nimi: | Reaaliaikaisen optisen 3D-mittalaitteen tarkkuuden verifiointi |
Verification of the accuracy of a real-time optical 3D-measuring system | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2007 |
Sivut: | viii + 86 + [30] Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Maanmittausosasto |
Oppiaine: | Fotogrammetria (Maa-57) |
Valvoja: | Haggrén, Henrik |
Ohjaaja: | Niini, Ilkka |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark M80 | Arkisto |
Tiivistelmä (fin): | Teollisessa laadunvalvonnassa on tänä päivänä suuri tarve ja kysyntä tarkoille ja joustaville reaaliaikaisille optisille 3D-mittalaitteille. Varsin mittavasta tutkimuksesta ja tuotekehityksestä huolimatta ei perinteisiä mekaanisia menetelmiä korvaavaa uutta teknologiaa ole saatu lyötyä läpi markkinoilla. Yksi suurista ongelmista on optisen 3D-mittalaitteen tarkkuuden todentaminen. Tässä työssä esitellään kaksiosainen menetelmä Mapvision 4D optisen 3D-mittalaitteen tarkkuuden verifioimiselle. Menetelmän ensimmäinen osa seuraa tarkasti saksalaista VDI 2634-ohjesääntöä. Menetelmän toinen osa perustuu VDI 2634-ohjesäännön lisäksi tässä työssä esitettyyn tutkimukseen Mapvision 4D-mittalaitteen suorituskyvystä eri tilanteissa. Tässä työssä käytetyllä Mapvision 4D-mittalaitteella päästään mitattavasta piirteestä riippuen 0,02 - 0,05 mm:n mittaustarkkuuteen kappaleen deformaation havaitsemisessa. Mittaustarkkuuteen vaikuttavat mitattavan piirteen hahmon lisäksi niin keskiarvoistettavien mittauskuvien sekä piirteen havaitsevien kameroiden määrä kuin myös valaistusolosuhteet sekä piirteen likaisuus. Myös mitattavan piirteen sijainti vaikuttaa sekä mittaustarkkuuteen että mittausten luotettavuuteen. |
ED: | 2007-02-08 |
INSSI tietueen numero: 33067
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI