haku: @keyword vikaantumismalli / yhteensä: 2
viite: 1 / 2
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Erixon, Peter |
Työn nimi: | Erään taajuusmuuttajan piirikorttien luotettavuuden estimointi kiihdytetyllä testausmenetelmällä |
Reliability estimation of a frequency converter's printed circuit board assemblies based on accelerated test method | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2012 |
Sivut: | [9] + 54 s. + liitt. 5 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkötekniikan laitos |
Oppiaine: | Tehoelektroniikka (S-81) |
Valvoja: | Ovaska, Seppo |
Ohjaaja: | Eskola, Ville |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark Aalto 689 | Arkisto |
Avainsanat: | life distribution acceleration factor acclelerated life test reliability test degradation test failure model Arrbenius equation activation energy taajuusmuuttaja kiihdytetty elinikätesti kiihdytetty luotettavuustesti kiihdytetty vanhentamistesti elinikäjakauma kiihdytyskerroin vikaantumismalli Arrheniuksen yhtälö aktivoitumisenergia |
Tiivistelmä (fin): | Kasvaneen kilpailun seurauksena yritysten tulee pystyä tuottamaan markkinoille luotettavia tuotteita kilpailijoitaan nopeammin. Kiihdytettyjen elinikätestien tavoitteena on vastata tähän tarpeeseen. Testien tarkoituksena on saada tietoa tuotteen luotettavuudesta käyttökauden aikana ja eteenkin sen lopussa. Eliniän estimointi kiihdytetyillä testausmenetelmillä perustuu tilastollisiin menetelmiin, jossa testeillä saadusta tilastollisesta aineistosta voidaan todennäköisyyslaskentaan perustuen estimoida testattavan tuotteen elinikä. Kiihdytettyihin elinikätesteihin liittyy tilastotieteen ja todennäköisyyslaskennan lisäksi keskeisesti eri vikamekanismit, joita testeissä kiihdytetään. Vikojen tulee esiintyä kiihdytetyissä testeissä samanlaisina kuin ne mahdollisesti esiintyisivät käyttöolosuhteissakin. Tämän diplomityön tarkoituksena on estimoida erään taajuusmuuttajan piirikorttien elinikä kiihdytetyllä elinikätestillä, kun rasitteena käytetään korkeaa tasaista lämpötilaa. Työn testausjärjestelmä rakennettiin sähköisesti piirikorttien normaalikäyttöä vastaavaksi. Kiihdytetyt testit suoritettiin Arctest Oy:n valmistamassa olosuhdetestauskaapissa. Testit suoritettiin kahdessa eri lämpötilassa, joista tässä työssä esitetään aikataulusyistä ensimmäisen testin tulokset kiihdytettyyn luotettavuustestiin perustuen. Kiihdytetyn luotettavuustestin tulosten perusteella piirikorttien luotettavuus estimoidaan komponentti- ja vikamekanismikohtaisiin aktivointienergioihin perustuen. Testitulosten tulkinnassa käytetyt aktivointienergiat perustuvat standardissa IEC 61709 annettuihin energioihin. Kahden eri testirasitteen perusteella voidaan saatujen elinikäjakaumien keskimääräisten elinikäestimaattien perusteella sovittaa karakteristinen elinikäsuora rasitustason funktiona, jonka perusteella saadaan keskimääräiset eliniät muilla rasitteiden arvoilla. |
ED: | 2012-05-14 |
INSSI tietueen numero: 44491
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI