haku: @keyword test design / yhteensä: 2
viite: 2 / 2
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Juuti, Matti |
Työn nimi: | Digitaalisten tietoliikennepiirien automaattinen testaussuunnittelu scan design -menetelmillä |
Automatic test design of digital telecommunication ASICs using scan design methods | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 1991 |
Sivut: | x + 66 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Tietotekniikan osasto |
Oppiaine: | Teletekniikka (Tkl-38) |
Valvoja: | Rahko, Kauko |
Ohjaaja: | Komulainen, Timo |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark T80 | Arkisto |
Avainsanat: | application specific integrated circuit ASIC test design logic design digital technology automatic test generation ATG automatic test pattern generation ATPG test vector generator ATTE design-for-testability DFT scan design telecommunication asiakaspiiri ASIC testaussuunnittelu logiikkasuunnittelu digitaalitekniikka automaattinen testingenerointi ATG automaattinen testivektorien generointi ATPG testivektorigeneraattori ATTE testattavuussuunnittelu DFT scan design tietoliikennetekniikka |
ED: | 1994-04-29 |
INSSI tietueen numero: 7356
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI