haku: @keyword MOVPE / yhteensä: 23
hakutulos-lista
viite: 21 / 23
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Toivonen, Juha
Työn nimi:Mikrokaviteettirakenteen valmistus ja optiset ominaisuudet
Fabrication and optical properties of microcavity structure
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:1999
Sivut:65      Kieli:   fin
Koulu/Laitos/Osasto:Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto
Oppiaine:Optoelektroniikka   (S-104)
Valvoja:Tuomi, Turkka
Ohjaaja:Lipsanen, Harri
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark S80     | Arkisto
Avainsanat:mikrokaviteetti
Braggin peili
kvanttikaivo
MOVPE
röntgendiffraktio
aikariippuva fotoluminesenssi
Tiivistelmä (fin):Teknillisen korkeakoulun Optoelektroniikan laboratorion MOVPE-laitteella valmistettiin viisi monikerroksista puolijohdenäytettä.
Kahden Braggin peilirakenteen avulla kalibroitiin puolijohteiden kasvunopeuksia ja yksittäisen kvanttikaivon avulla tarkistettiin kvanttikaivosta emittoituneiden fotonien energia.
Tyhjä mikrokaviteettirakenne valmistettiin vertailukohdaksi mikrokaviteettirakenteelle, jonka kaviteettiin valmistettiin yksi kvanttikaivo.
Röntgendiffraktiomittauksilla tutkittiin valmistettujen näytteiden kerrospaksuuksia ja näytteiden optisia ominaisuuksia tutkittiin heijastuskerroinmittauksilla, fotoluminesenssimittauksilla ja aikariippuvilla fotoluminesenssimittauksilla.

Mikrokaviteettien Braggin peilit valmistettiin 71 nm paksuista Al_(0,2)Ga_(0,8)As-kerroksista ja 82 nm paksuista AlAs-kerroksista.
Mikrokaviteettien yläpeileissä käytettiin 9-periodisia ja alapeileissä 121/2-periodisia Braggin peilejä.
Molempien peilien heijastuskerroin resonanssitaajuudella oli noin 0,9.
Yhden aallonpituuden mittaisen GaAs-kaviteettikerroksen paksuus oli noin 270 nanometriä.
Röntgendiffragtiomittauksilla selvitettiin puolijohdekerroksien paksuusjakaumaa ja todettiin kerrospaksuuksien muuttuvan näytteen alueella yli 15 prosenttia.
Kerrospaksuuksien vaihteluista johtuen mikrokaviteetin resonanssitaajuutta voitiin säätää siirtämällä mittauspistettä näytteen alueella.

Kvanttikaivollisen mikrokaviteettinäytteen heijastuskerroinspektrissä näkyi eksitonien aiheuttama piikki, mutta merkkejä vahvasta kaviteettimoodin ja eksitonien kytkeytymisestä ei löytynyt.
Aikariippuvista fotoluminesenssimittauksista selvitettiin luminesenssin intensiteetin eksponentiaalisen vaimenemisen aikavakiot.
Kaviteettimoodin ja eksitonien resonanssissa aikavakio oli 1,9 ns ja kaukana resonanssista 1,1 ns.
ED:1999-03-08
INSSI tietueen numero: 14032
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI