haku: @keyword kidevirheet / yhteensä: 3
viite: 3 / 3
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Leinonen, Kari |
Työn nimi: | Puolijohdekomponenttien ja -materiaalien sähköinen karakterisointi pyyhkäisyelektronimikroskooppia käyttäen |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 1983 |
Sivut: | 125 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkötekniikan osasto |
Oppiaine: | Elektronifysiikka (01.69) |
Valvoja: | Sinkkonen, Juha |
Ohjaaja: | Ronkainen, Hannu |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | pyyhkäisyelektronimikroskooppi jännitekontrasti diffuusiopitoisuus kidevirheet ISOCMOS |
ED: | 1994-04-29 |
INSSI tietueen numero: 1092
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI