haku: @keyword lyijyttömyys / yhteensä: 3
hakutulos-lista
viite: 2 / 3
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Karppinen, Juha
Työn nimi:Tehosyklaus- ja lämpöshokkitestauksen vaikutukset lyijyllisiin sekä lyijyttömiin komponenttiliitoksiin
The effects of power cycling and thermal shock testing on leaded and lead-free component interconnections
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:2006
Sivut:125      Kieli:   fin
Koulu/Laitos/Osasto:Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto
Oppiaine:Elektroniikan valmistustekniikka   (S-113)
Valvoja:Kivilahti, Jorma
Ohjaaja:Laurila, Tomi
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark S80     | Arkisto
Avainsanat:solder interconnection
lead free
reliability
power cycling
thermal shock
juoteliitos
lyijyttömyys
luotettavuus
tehosyklaus
lämpöshokki
Tiivistelmä (fin):Elektronisten laitteiden nopeutuvat tuotesyklit kuluttajamarkkinoilla edellyttävät yhä tehokkaampia ja luotettavampia testausmenetelmiä riittävän laadun varmistamiseksi.
Lisäksi 1.7.2006 siirrytään EU-alueella elektroniikan tuotannossa lyijyttömiin juotteisiin, joiden luotettavuus rasituksen alaisuudessa saattaa poiketa huomattavasti yleisesti käytetystä tina-lyijy-juotteesta.
Tehosyklaukseen ollaan kiinnittämässä yhä enemmän huomiota perinteisen lämpösyklauksen sijaan, kun etsitään monipuolisempia testejä laadun varmistamiseksi.
Menetelmän tutkimista varten tässä työssä valmistettiin lyijyllisellä ja lyijyttömällä kokoonpanolla testirakenteita, jotka sisälsivät sekä pintaliitettyjä että läpikortin komponentteja.
Lyijyttömässä kokoonpanossa käytettiin Sn3.5Ag0.7Cu - juotepastaa reflow-prosessissa ja Sn3.0Ag0.5Cu -seosta aaltojuottamisessa.

Lämpösyklaustesti suoritettiin IEC 68-2-14 Na standardin mukaisesti.
Nopeiden lämpötilanvaihteluiden aiheuttamien termomekaanisten rasitusten korostamiseksi valittiin nopea syklimuoto, jossa pitoajat olivat 10 min ja äärilämpötilat -40°C ja 125°C.
Tehosyklausta varten rakennettiin sulautettu testipenkki ohjaamaan testirakenteiden tehonsyöttöä.
Testien lämpötilaprofiilit säädettiin muuten yhteneviksi, mutta tehosyklauksen alalämpötila oli 30°C.

Testattujen rakenteiden poikkileikkausnäytteissä havaittiin selkeitä vaurioita komponenttien juoteliitoksissa.
Molemmissa testeissä pääasiallinen vauriomekanismi oli uudelleenkiteytymisen avustama murtumien ydintyminen ja eteneminen.
Vaikka lämpösyklauksen terminen kuormitus oli suurempi, eteni uudelleenkiteytyminen tehosyklauksessa nopeammin.
Myös metallienvälisten yhdistekerroksien kasvu liitoksen anodipuolella oli tehosyklauksessa kiihtynyttä.

Lämpökuormituksen paikallistuminen sekä elektromigraation aiheuttamat muutosilmiöt ovat elektroniikassa yhä kasvavia huolenaiheita.
Tämän johdosta tehosyklaus tarjoaa elektronisille kokoonpanoille todenmukaisemman rasitusympäristön.
ED:2006-04-13
INSSI tietueen numero: 31530
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI