haku: @keyword lyijyttömyys / yhteensä: 3
hakutulos-lista
viite: 1 / 3
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Nurminen, Kalle
Työn nimi:Lyijyttömien juoteliitosten luotettavuus lämpöshokki- ja tehosyklaustestauksessa
Reliability of lead-free solder interconnections in thermal shock and power cycling tests
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:2006
Sivut:ix + 99 s. + liitt. 9      Kieli:   fin
Koulu/Laitos/Osasto:Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto
Oppiaine:Elektroniikan valmistustekniikka   (S-113)
Valvoja:Kivilahti, Jorma
Ohjaaja:Laurila, Tomi
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark S80     | Arkisto
Avainsanat:reliability
lead-free
solder interconnection
thermal shock
power cycling
luotettavuus
lyijyttömyys
juoteliitos
lämpöshokki
tehosyklaus
Tiivistelmä (fin): Tässä diplomityössä tutkittiin lyijyttömien BGA-juoteliitosten luotettavuutta lämpöshokki- ja tehosyklaustestauksessa.
Juoteliitosten vaurioiden lisäksi tarkasteltiin piirilevyyn valmistettujen lämpöläpivientien vaikutusta rakenteen luotettavuuteen.
Tehosyklaustestauksen osalta keskityttiin myös itse testin vaatimuksiin sekä sen soveltuvuuteen kiihdytettyyn elinikätestaukseen.
Kirjallisuusosassa käsiteltiin lyhyesti elektroniikan kokoonpanoprosessia sekä mahdollisia lyijyttömiä juotevaihtoehtoja.
Kokoonpanon lisäksi perehdyttiin elektroniikan lämmönhallintaan ja tietokoneavusteiseen mallinnukseen sekä lämpöshokki- ja tehosyklaustesteihin.

Lämpöshokkitesti suoritettiin JESD22-A104C- standardin mukaisesti.
Käytetty lämpötilaväli oli 0-125 °C 10 minuutin pitoajoilla sekä ylä- että alalämpötilassa.
Tehosyklaustestiä varten suunniteltiin ja toteutettiin mukautettu testausjärjestelmä.
Tehosyklaustestissä osassa testikokoonpanoissa itse komponentti toimi lämmönlähteenä, kun taas osassa kokoonpanoista piirilevyn sisään valmistetut vastukset tuottivat lämpöä.
Tehosyklaustestissä lämpötilaväli oli noin 25-125 °C ja pitoajat 10 minuuttia sekä ylä- että alalämpötilassa.
Tehosyklaustestin luonteen takia lämpötilajakauma oli kuitenkin hyvin epätasainen verrattuna lämpöshokkitestiin.

Työn tuloksena lämpöshokkitesti todettiin rasittavimmaksi johtuen suurimmista kokonaisvenymistä.
Ensimmäinen vaurioitunut kokoonpano havaittiin 4382 syklin jälkeen.
Suurimmat rasitukset kohdistuivat sirun reunalla ja komponentin kulmissa sijaitseviin juoteliitoksiin.
Kun tehosyklaustestissä käytettiin piirilevyn sisään valmistettuja vastuksia, havaittiin sen olevan samankaltainen lämpöshokkitestin kanssa.
Juoteliitoksissa nähtiin selviä murtumia, mutta rasitukset olivat kuitenkin pienempiä eikä sähköiseen toimintaan vaikuttavia vaurioita havaittu.
Lämpeneminen ja rasitukset olivat huomattavasti paikallisempia ja keskittyivät sirun reunalla sijaitseviin juoteliitoksiin, kun komponentti toimi lämmöntuottajana.
Vaurioita, jotka olisivat vaikuttaneet sähköiseen toimintaan, ei havaittu.
Vauriomekanismi kaikissa testeissä oli uudelleenkiteytymisen avustama särön ydintyminen ja eteneminen.
Lämpöläpivienneillä ei havaittu olevan merkitystä rakenteen luotettavuuteen.
Kaiken kaikkiaan tehosyklauksen todettiin olevan varteenotettava vaihtoehto perinteiselle lämpöshokkitestaukselle.
ED:2007-01-11
INSSI tietueen numero: 32864
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI