haku: @keyword hiilen nanoputket / yhteensä: 3
hakutulos-lista
viite: 1 / 3
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Laiho, Patrik
Työn nimi:Conductive atomic force microscopy studies and computational modelling of single-walled carbon nanotube thin films
Yksiseinäisten hiilen nanoputkien ohutkalvojen johtava atomivoimamikroskopia ja laskennallinen mallinnus
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:2012
Sivut:[6] + 59      Kieli:   eng
Koulu/Laitos/Osasto:Teknillisen fysiikan laitos
Oppiaine:Fysiikka   (Tfy-3)
Valvoja:Kauppinen, Esko
Ohjaaja:Kaskela, Antti
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark Aalto  110   | Arkisto
Avainsanat:carbon nanotubes
transparent conducting films
conductive atomic force microscopy
hiilen nanoputket
läpinäkyvät johtavat ohutkalvot
johtava atomivoimamikroskopia
Tiivistelmä (fin): Läpinäkyvät johtavat ohutkalvot ovat esimerkiksi litteiden näyttöjen ja aurinkokennojen keskeinen osa.
Yksiseinäisten hiilen nanoputkien (SWCNT) muodostamat ohutkalvot ovat lupaava ehdokas nykyisin käytössä olevien materiaalien, kuten indiumin ja tinan seosoksidin (ITO), täydentäjäksi ja korvaajaksi.

Vaikka SWCNT-ohutkalvoja on tutkittu kokonaisuudessaan paljon, niiden sähkönjohtavuuden mikroskooppinen perusta on vielä jossain määrin epäselvä ja sen parempi ymmärrys voisi auttaa parantamaan ohutkalvojen ominaisuuksia.

Tässä työssä aerosolisynteesimenetelmällä valmistettujen SWCNT-ohutkalvojen sähkönjohtavuutta on tutkittu mittaamalla johtavalla atomivoimamikroskopialla (C-AFM) nanoputkien ja niiden kimppujen välisiä liitosvastuksia, joiden arvioidaan olevan kalvojen sähkönjohtavuutta eniten rajoittava tekijä.
Mittaustuloksia sekä kokeellista arviota kalvojen läpinäkyvyyden ja SWCNT-kimpputiheyden suhteesta on käytetty sijaispiirimallissa, jolla on simuloitu eritiheyksisten kalvojen läpinäkyvyyttä ja sähkönjohtavuutta.

Saadut tulokset mahtuvat valmistetuista ohutkalvoista mitattujen arvojen virherajojen sisään ja niitä voidaan käyttää apuna arvioitaessa, minkä hallittavissa olevien tekijöiden muutos SWCNT-ohutkalvojen valmistuksessa johtaa suurimpaan parannukseen ohutkalvojen ominaisuuksissa.
Tiivistelmä (eng): Transparent, conductive thin films are a key component of devices such as thin film displays and photovoltaic cells.
Thin films of single-walled carbon nanotubes (SWCNTs) are a promising candidate material for replacing or supplementing currently-used metal oxides such as indium tin oxide (ITO).

While SWCNT thin films are and have been a topic of active research, the microscopic basis of electrical conduction in SWCNT thin films is understood relatively poorly and a better understanding of it could help enhance film properties.

In this work, electrical conduction in SWCNT thin films prepared by an aerosol synthesis method was studied by conducting atomic force microscopy (C-AFM) of the junctions between SWCNTs and their bundles, which are expected to be the dominant source of electrical resistance in the films.
The C-AFM data has been used, together with an experimental estimate of the relationship between film density and optical transmittance, in a substitute circuit model to simulate the bulk electrical and optical properties of thin films with different morphologies.

Results from the computational model were found to be within the experimental errors of properties measured from thin films, and they can be used in judging which controllable parameters in SWCNT thin film preparation should be changed to obtain the largest enhancement in thin film performance.
ED:2012-11-27
INSSI tietueen numero: 45632
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI