haku: @keyword IGBT / yhteensä: 32
viite: 3 / 32
| Tekijä: | Sahlstedt, Jukka |
| Työn nimi: | Analysis of IGBT failure due to gate driver malfunction |
| IGBT:n vikaantumisen analysointi hilaohjaimen virhetoiminnasta | |
| Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
| Julkaisuvuosi: | 2014 |
| Sivut: | vii + 66 s. + liitt. 2 Kieli: eng |
| Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkötekniikan ja automaation laitos |
| Oppiaine: | Sähkökäytöt (S3016) |
| Valvoja: | Ovaska, Seppo |
| Ohjaaja: | Turunen, Ari |
| Elektroninen julkaisu: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201411042988 |
| OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
| Sijainti: | P1 Ark Aalto 2352 | Arkisto |
| Avainsanat: | IGBT IGBT failure mechanisms gate driver gGate driver malfunction IGBT:n vikaantumismekanismit hilaohjain hilaohjaimen virhetoiminta |
| ED: | 2014-11-09 |
INSSI tietueen numero: 50028
+ lisää koriin
INSSI