haku: @keyword pii / yhteensä: 39
viite: 32 / 39
Tekijä: | Rantamäki, Reko |
Työn nimi: | Puolijohteiden synkrotronisäteilytopografia |
Synchrotron X-ray Topography of Semiconductors | |
Julkaisutyyppi: | Lisensiaatintutkimus |
Julkaisuvuosi: | 1998 |
Sivut: | 47 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Oppiaine: | Optoelektroniikka (S-104) |
Valvoja: | Tuomi, Turkka |
Ohjaaja: | Tuomi, Turkka |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | x-ray topography synchrotron radiation grazing incidence topography section topography back reflection topography silicon wafer silicon Si röntgentopografia synkrotronisäteily viistoheijastuskuvaus leikekuvaus takaisinheijastuskuvaus piikiekko pii Si |
ED: | 1998-10-13 |
INSSI tietueen numero: 13589
+ lisää koriin
INSSI