haku: @keyword BIST / yhteensä: 4
viite: 4 / 4
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Wikström, Juha |
Työn nimi: | Testaus ja IEEE 1149.1 reunaluotaus |
Testing and IEEE 1149.1 boundary scan | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2003 |
Sivut: | 66 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Oppiaine: | Piiritekniikka (S-87) |
Valvoja: | Halonen, Kari |
Ohjaaja: | Lipasti, Lauri |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | IEEE 1149.1 JTAG testing boundary scan test access port TAP BIST IEEE 1149.1 JTAG testaus reunaluotaus reunapyyhkäisy testiportti TAP BIST |
ED: | 2003-05-23 |
INSSI tietueen numero: 19622
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI