haku: @keyword electronic ballast / yhteensä: 4
viite: 1 / 4
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Kopola, Pälvi |
Työn nimi: | Reliability Prediction of an Electronic Ballast |
Elektronisen liitäntälaitteen luotettavuuden ennustaminen | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2006 |
Sivut: | 102 Kieli: eng |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Oppiaine: | Elektroniikan valmistustekniikka (S-113) |
Valvoja: | Kivilahti, Jorma |
Ohjaaja: | Lahtinen, Raimo |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | reliability electronic ballast SN29500 accelerated tests luotettavuus elektroninen liitäntälaite SN29500 kiihdytetyt testit |
Tiivistelmä (fin): | Tässä diplomityössä analysoitiin elektronisen liitäntälaitteen luotettavuutta empiirisen luotettavuusmallin ja kiihdytettyjen testien avulla. Empiirinen luotettavuusmalli toteutettiin Siemensin SN29500 luötettavuuskäsikirjaa apuna käyttäen. Työn kirjallisuusosassa paneuduttiin luotettavuuden peruskäsitteisiin, luotettavuuden ennustamiseen ja kiihdytettyjen testien hyödyntämiseen luotettavuustarkasteluissa. Lisäksi kirjallisuusosassa käsiteltiin lyhyesti elektronisen liitäntälaitteen ominaisuuksia ja elektronisissa liitäntälaitteissa olevia komponentteja ja niiden yleisimpiä vauriomekanismeja. Elektronisen liitäntälaitteen komponenttien perusvikataajuuksina käytettiin SN29500 luotettavuuskäsikirjassa esitettyjä arvoja. Komponenttien oikeat rasitukset normaalissa käyttöympäristössä määritettiin erilaisin mittausmenetelmin ja otettiin huomioon komponenttien lopullisia vikataajuuksia laskettaessa. Jokaisen komponentin vikaantumisen voitiin olettaa johtavan elektronisen liitäntälaitteen lopulliseen vaurioon, joten laitteen vikataajuus määritettiin laskemalla yhteen yksittäisten komponenttien vikataajuudet. Elektronisen liitäntälaitteen luotettavuutta tarkasteltiin myös kiihdytettyjen testien avulla, joissa käytettiin lämpötilaa rasittavana tekijänä. Diplomityön tuloksena saatiin varmistus EL1x58/54s elektronisen liitäntälaitteen luotettavuudesta. Vikataajuudeksi määritettiin 281 FIT Tc pisteen lämpötilan ollessa 40°C ja 979 FIT, kun Tc pisteen lämpötila oli 70°C. Siemensin luotettavuuskäsikirjan perusteella EL1x58/54s elektronista liitäntälaitetta voidaan pitää luotettavana tuotteena. Lisäksi kiihdytetyt testit osoittivat laitteen kestävän sekä korkean että vaihtelevan lämpötilan aiheuttamia rasituksia. |
ED: | 2006-03-21 |
INSSI tietueen numero: 31383
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI