haku: @keyword EMC / yhteensä: 48
viite: 10 / 48
Tekijä: | Dahlgren, Jonas |
Työn nimi: | EMC-mittapaikkojen välisten korrelaatiokertoimien määrittely |
Determination of correlation factors between different types of EMC test sites | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2012 |
Sivut: | vii + 61 s. + liitt. 13 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Elektroniikan laitos |
Oppiaine: | Sovellettu elektroniikka (S-66) |
Valvoja: | Eskelinen, Pekka |
Ohjaaja: | Nyman, Janne ; Nyberg, Tomi |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark Aalto 707 | Arkisto |
Avainsanat: | comb-spectrum correlation factor monopole measurement uncertainty reference radiator spectrum analyzer CISPR EMC EUT FAR kampaspektri korrelaatiokerroin LabVIEW mittausepävarmuus monopoli referenssisäteilijä SAR spektrianalysaattori |
ED: | 2012-07-09 |
INSSI tietueen numero: 45012
+ lisää koriin
INSSI