haku: @keyword resistiivisyys / yhteensä: 5
viite: 5 / 5
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Janhunen, Marko |
Työn nimi: | Epitaktisten piikerrosten karakterisointimenetelmät ja arviointi elinaikamittauksin |
Characterization Methods for Epitaxial Silicon Layers and Evaluation of Layers by Lifetime measurements | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 1997 |
Sivut: | 77 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Oppiaine: | Elektronifysiikka (S-69) |
Valvoja: | Kuivalainen, Pekka |
Ohjaaja: | Ahopelto, Jouni |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | CVD lifetime recombination resisitivity layer thickness DLTS crystal defect CVD elinaika rekombinaatio resistiivisyys kerrospaksuus DLTS kidevirhe |
ED: | 1997-03-17 |
INSSI tietueen numero: 11984
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI