haku: @keyword herkkyys / yhteensä: 5
viite: 5 / 5
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Talonen, Juha |
Työn nimi: | Test Circuit For IC Encapsulation Quality |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 1997 |
Sivut: | 77 Kieli: eng |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Oppiaine: | Piiritekniikka (S-87) |
Valvoja: | Halonen, Kari |
Ohjaaja: | Marjanen, Lasse |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | integrated circuit package encapsulation stress leakage corrosion moisture failure sensitivity integroitu piiri kotelo rasitus vuotovirta korroosio kosteus vikaantuminen herkkyys |
ED: | 1997-04-23 |
INSSI tietueen numero: 12073
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI