haku: @keyword atomic force microscopy / yhteensä: 5
viite: 2 / 5
Tekijä: | Pohjavirta, Ilona |
Työn nimi: | Characterization of graphene on silicon dioxide and hexagonal boron-nitride |
Julkaisutyyppi: | Kandidaatintyƶ |
Julkaisuvuosi: | 2014 |
Sivut: | 44 Kieli: eng |
Koulu/Laitos/Osasto: | Perustieteiden korkeakoulu |
Koulutusohjelma: | Teknillisen fysiikan ja matematiikan koulutusohjelma |
Oppiaine: | Teknillinen fysiikka (SCI3028) |
Valvoja: | Liljeroth, Peter |
Ohjaaja: | Banerjee, Kaustuv |
Elektroninen julkaisu: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201501301765 |
Sijainti: | |
Avainsanat: | graphene hexagonal boron-nitride field-effect transistor atomic force microscopy raman spectrometry electrical transport measurement |
ED: | 2015-02-08 |
INSSI tietueen numero: 50502
+ lisää koriin
INSSI