haku: @keyword thin films / yhteensä: 6
viite: 6 / 6
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Yoseef, Ezer |
Työn nimi: | Thermal Stability of the Cu/Cr/Si Structure |
Cu/Cr/Si-rakenteen terminen stabiilisuus | |
Julkaisutyyppi: | Lisensiaatintutkimus |
Julkaisuvuosi: | 1998 |
Sivut: | 48 Kieli: eng |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Oppiaine: | Elektronifysiikka (S-69) |
Valvoja: | Kuivalainen, Pekka |
Ohjaaja: | |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | electronic materials multilayers thin films sputtering electrical properties |
ED: | 1999-01-22 |
INSSI tietueen numero: 13827
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI