haku: @keyword vika-analyysi / yhteensä: 6
viite: 6 / 6
« edellinen | seuraava »
Tekijä: | Muroke, Pekka |
Työn nimi: | Nopeiden digitaalisten integroitujen piirien luotettavuus |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 1985 |
Sivut: | 69 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkötekniikan osasto |
Oppiaine: | Elektronifysiikka (01.69) |
Valvoja: | Sinkkonen, Juha |
Ohjaaja: | Soininen, Aarni |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | ECL elektromigraatio elinikätesti integroitujen piirien luotettavuus vika-analyysi |
ED: | 1994-04-29 |
INSSI tietueen numero: 2273
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI