haku: @keyword kapasitiivinen anturi / yhteensä: 6
viite: 4 / 6
Tekijä: | Rönö, Markku |
Työn nimi: | Kapasitiivinen mittausjärjestelmä nippikuormaprofiilin mittaamiseksi |
A capacitive nip load profile measurement system | |
Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
Julkaisuvuosi: | 2004 |
Sivut: | 74 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
Oppiaine: | Sovellettu elektroniikka (S-66) |
Valvoja: | Sepponen, Raimo |
Ohjaaja: | Innala, Matti |
OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
Avainsanat: | nip load profile capacitive sensor femtofarad nippikuormaprofiili kapasitiivinen anturi femtofaradi |
Tiivistelmä (fin): | Tässä työssä esitetään mittausjärjestelmä paperikoneen kahden pyörivän telan toisiinsa kohdistaman ns. nippivoimaprofiilin mittaamiseksi. Mittaus toteutetaan kapasitiivisilla antureilla, jotka asennetaan toisen telan pinnoitekerroksen alle. Nippivoiman aiheuttama kapasitanssimuutos anturissa on hyvin pieni, ja suurimpi haasteita tässä työssä onkin riittävän erottelukyvyn saavuttaminen. Riittäväksi erottelukyvyksi on arvioitu noin 0,1 - 1 fF. Vaadittava mittauskaistanleveys määräytyy telojen pyörimisnopeuden mukaan. Riittävä kaistanleveys on noin 6 - 13 kHz. Tässä työssä keskitytään olemassa olevan prototyyppilaitteen karakterisointiin sekä sen kehittämiseen tuotantoon sopivaksi. Myös vaihtoehtoisia ratkaisuja antureiden lukuelektroniikaksi selvitetään. Prototyyppilaite perustuu valmiiseen kapasitanssinmittauspiiriin, jota on ulkoisilla lisäpiireillä muokattu tähän sovellukseen sopivaksi. Saatujen tulosten perusteella voidaan sanoa, että tehdyt muutokset vaikuttivat mittauspiirin toimintaan myös heikentävästi. Nämä heikennykset osoittautuivat lopulta niin vakaviksi, että mittauselektroniikalle joudutaan hakemaan kokonaan uutta lähestymistapaa. |
ED: | 2005-01-19 |
INSSI tietueen numero: 26668
+ lisää koriin
INSSI