haku: @supervisor Tuomi, Turkka / yhteensä: 66
viite: 14 / 66
| Tekijä: | Rantamäki, Reko |
| Työn nimi: | Puolijohteiden synkrotronisäteilytopografia |
| Synchrotron X-ray Topography of Semiconductors | |
| Julkaisutyyppi: | Lisensiaatintutkimus |
| Julkaisuvuosi: | 1998 |
| Sivut: | 47 Kieli: fin |
| Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
| Oppiaine: | Optoelektroniikka (S-104) |
| Valvoja: | Tuomi, Turkka |
| Ohjaaja: | Tuomi, Turkka |
| OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
| Sijainti: | P1 Ark S80 | Arkisto |
| Avainsanat: | x-ray topography synchrotron radiation grazing incidence topography section topography back reflection topography silicon wafer silicon Si röntgentopografia synkrotronisäteily viistoheijastuskuvaus leikekuvaus takaisinheijastuskuvaus piikiekko pii Si |
| ED: | 1998-10-13 |
INSSI tietueen numero: 13589
+ lisää koriin
INSSI