haku: @supervisor Tuomi, Turkka / yhteensä: 66
viite: 49 / 66
| Tekijä: | Ravila, Pekka |
| Työn nimi: | Kerrospuolijohteiden tutkiminen röntgendiffraktiolla |
| X-ray diffraction study of layerd semiconductors | |
| Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
| Julkaisuvuosi: | 1988 |
| Sivut: | 53 Kieli: fin |
| Koulu/Laitos/Osasto: | Tietotekniikan osasto |
| Oppiaine: | Fysiikka (Tfy-3) |
| Valvoja: | Tuomi, Turkka |
| Ohjaaja: | |
| OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
| Sijainti: | P1 Ark TF80 | Arkisto |
| ED: | 2006-09-13 |
INSSI tietueen numero: 32374
+ lisää koriin
INSSI