haku: @keyword resoluutio / yhteensä: 7
hakutulos-lista
viite: 7 / 7
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Setälä, Tero
Työn nimi:Theoretical Studies of Optical Near Fields: Evanescent Contribution and Resolution
Vaimenevan optisen kentän vaikutus resoluutioon optisessa lähikenttämikroskopiassa
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:1998
Sivut:63      Kieli:   eng
Koulu/Laitos/Osasto:Teknillisen fysiikan ja matematiikan osasto
Oppiaine:Materiaalifysiikka   (Tfy-44)
Valvoja:Westerholm, Jan
Ohjaaja:Westerholm, Jan
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark TF80     | Arkisto
Avainsanat:near-field optics
evanescent field
resolution
Green's function
point-dipole field
lähikenttäoptiikka
vaimeneva kenttä
resoluutio
Greenin funktio
pistedipolin kenttä
Tiivistelmä (fin):Säteilevän tai sirottavan kappaleen ympärille muodostuvalla vaimenevalla optisella kentällä on erittäin tärkeä sija optisessa lähikenttämikroskopiassa, sillä sen avulla saadaan lähikenttämittauksissa aikaan huomattavasti klassista diffraktiorajaa tarkempi erotuskyky.
Vaikka vaimenevien aaltojen merkitys paremman erotuskyvyn saavuttamisessa on yleisesti hyväksytty, ei vielä täysin tiedetä, miten tieto alle valon aallonpituuden suuruisista yksityiskohdista on sisältyneenä vaimenevaan kenttään.
Paremman ymmärryksen saavuttamiseksi on hyödyllistä tarkastella vaimenevaa ja säteilevää kenttää erikseen joissain yksinkertaisissa geometrioissa.

Tässä työssä vaimenevaa ja säteilevää kenttää tarkastellaan geometrioissa, joissa yksityiskohtia mallinnetaan pistedipoleilla.
Tällöin on tärkeää tietää, miten yhden pistedipolin kenttä jaetaan vaimenevaan ja säteilevään osaan.
Jaettaessa yhden dipolin kenttää voidaan käyttää hyväksi skalaarisen palloaallon, eli skalaarisen vapaan avaruuden Greenin funktion, Weylin esitystä, joka sisältää sekä vaimenevia että eteneviä tasoaaltoja.
Skalaarisen palloaallon vaimenevan ja säteilevän osan avulla saadaan laskettua myös sähkömagneettisen kentän (tensorisen) Greenin funktion vastaavat osat.
Tämä jako voidaan suoraan yleistää myös usean vuorovaikuttavan dipolin synnyttämän kentän jakamiseen.
Tämä puolestaan johtaa kohtalaisen paljon laskenta-aikaa vaativaan itseiskonsistenttiin ongelmaan.
Osoittautui, että sekä vaimenevan että säteilevän sähkömagneettisen kentän Greenin funktio voidaan esittää kompaktissa numeeriseen laskentaan hyvin soveltavassa muodossa.

On tärkeää huomata, että sähkömagneettisen kentän Greenin funktion jakaminen riippuu Weylin esityksen johdossa käytetyn jakotason valinnasta.
Eri valinnat antavat vaimenevan ja säteilevän osan Greenin funktiolle eri arvot valitussa kiinteässä tarkastelupisteessä.
Täten jakoa on pidettävä vain matemaattisena työkaluna, jota voidaan soveltaa fysikaaliseen tilanteeseen, kun Weylin esityksen jakotaso ensin kiinnitetään tarkasteltavan geometrian mukaisesti.
Tätä ei alan kirjallisuudessa ole aikaisemmin painotettu ja osa kirjallisuudessa esitetyistä tuloksista on jopa virheellisiä.

Tässä työssä käytetyn pistedipolimallin ei ole tarkoitus olla fysikaalisesti tarkka malli lähikenttämikroskopian mittaukselle.
Mallilla voidaan kuitenkin tutkia mekanismia, jolla optisen lähikenttämikroskoopin mittakärki havaitsee alle aallonpituuden suuruusluokkaa olevia yksityiskohtia tutkittavasta näytteestä.
Lisäksi voidaan tutkia erotuskyvyn riippuvuutta mittakärjen pyyhkäisyetäisyydestä sekä polarisaatiosuunnasta.
Malliin voidaan lisätä myös ulkoinen kenttä, jolloin voidaan tutkia myös ulkoisen kentän polarisaatiosuunnan vaikutusta erotuskykyyn.
Ennen kaikkea tällä mallilla nähdään vaimenevan optisen kentän suuri merkitys klassisen diffraktiorajan ylittämisessä.
ED:1999-02-03
INSSI tietueen numero: 13877
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI