haku: @instructor Yli-Koski, Marko / yhteensä: 8
viite: 5 / 8
| Tekijä: | Väinölä, Hele |
| Työn nimi: | Study of carrier lifetime in thin silicon layers by photoconductive decay |
| Varauksenkuljettajien elinajan tutkiminen ohuissa piikerroksissa valojohtavuuden avulla | |
| Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
| Julkaisuvuosi: | 2000 |
| Sivut: | viii + 61 s. + liitt. Kieli: eng |
| Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto |
| Oppiaine: | Elektronifysiikka (S-69) |
| Valvoja: | Sinkkonen, Juha |
| Ohjaaja: | Yli-Koski, Marko |
| OEVS: | Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossaOppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa. Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/ Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.
Kirjautuminen asiakaskoneille
Opinnäytteen avaaminen
Opinnäytteen lukeminen
Opinnäytteen tulostus
|
| Sijainti: | P1 Ark TKK 2690 | Arkisto |
| Avainsanat: | carrier lifetime photoconductivity epitaxial layer silicon-on-insulator SOI continuity equation varauksenkuljettajien elinaika valojohtavuus epitaksiaalinen kerros välioksidoitu piirakenne (SOI) jatkuvuusyhtälö |
| ED: | 2000-09-20 |
INSSI tietueen numero: 15804
+ lisää koriin
INSSI