haku: @keyword low voltage / yhteensä: 8
hakutulos-lista
viite: 1 / 8
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Turnquist, Matthew
Työn nimi:Sub-threshold Operation of a Timing Error Detection Latch
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:2009
Sivut:ix + 65      Kieli:   eng
Koulu/Laitos/Osasto:Elektroniikan, tietoliikenteen ja automaation tiedekunta
Oppiaine:Piiritekniikka   (S-87)
Valvoja:Halonen, Kari
Ohjaaja:Koskinen, Lauri
Elektroninen julkaisu: http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201203071343
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark S80     | Arkisto
Avainsanat:sub-threshold
weak inversion
low power
low voltage
digital CMOS
Tiivistelmä (fin): Ajoitusvirheentunnistus (TED) mahdollistaa energian kulutuksen vähentämisen mikroprosessoreissa.
Tässä diplomityössä on kaksi versiota ajoitusvirheentunnistavasta salvasta (esim.
TDTBsubI ja TDTBsubII) ja systeemitason testipiiri (SystemTest), joka käyttää TDTBsub salpaa, mikä on suunniteltu toimimaan kynnysalueen alapuolella.
Diplomityö esittelee ensin dynaamisen jännitteen skaalauksen (DVS), koska TED käytetään sellaisissa järjestelmissä.
Seuraavaksi esitellään teoriaa kynnysalueen alapuolen suunnittelun haasteista.
Sitten esitellään molempien TDTBsub salpojen ja SystemTest-lohkojen suunnittelu.
Simulaatiotuloksia esitellään keskittyen operaatiotaajuuteen, energian kulutukseen ja toimintavarmuuteen variaatiot huomioon ottaen.
Operoitaessa kynnysalueen alapuolella TDTB-piirillä keskityttiin koon mitoittamiseen ja suunnittelutyyliin.
Ennen kaikkea kaikkien komponenttien mitoituksen piti olla suurempi kuin minimi CMOS-tekniikan leveydet.
Vaikka mitoittamisella saavutettiin toimintavarmuutta kynnysalueen alapuolella toimittaessa myös energian kulutus kasvoi siellä toimittaessa.
Perinteisiä vuotovirtojen vähentäviä mitoitustoimenpiteitä tehtiin suurimmalle osalle komponenteista.
Logiikkatyyli on tärkeää kynnysalueen alapuolella operoitaessa.
TDTBsubII salvassa uuden tekniikan näytetään antavan systeemitason suorituskykyä.
Simulaatioilla näytettiin kuinka ajoitusvirheentunnistus kykeni toimimaan kynnystason alapuolella.

TDTBsubI:n ja yhteenlaskun testipiirin piirinkuvio tehtiin 65nm CMOS-prosessilla.
TDTBsubII salpaa ei tehty, koska se suunniteltiin piirin määräajan jälkeen.
Piiriä tarkasteltaessa osoittautui, että piiri ei toiminut.
Piirin toimimattomuus johtui tuotantovaiheessa tapahtuneesta virheestä eikä suunnittelusta.
Tiivistelmä (eng):Timing error detection (TED) is used to enable the reduction the energy consumption of microprocessors.
In this thesis work, two versions of TED latches (i.e.
TDTBsubI and TDTBsubII) and a system-level test circuit (SystemTest) that utilizes the TDTBsubI latch have been designed to operate in sub-threshold.
The thesis rst introduces dynamic voltage scaling (DVS) since TED is utilized with such a system.
Next, theory is given to highlight the challenges within sub-threshold.
The design of the both TDTBsub latches and SystemTest are then given.
Simulation results follow with a focus on operation frequency, energy consumption, and robustness in the presence of variations.
To operate TDTBsub into sub-threshold, attention was given to sizing and logic style.
In general, the sizing of all components was required to be larger than the minimum CMOS width.
Although this provided robustness in sub-threshold, the energy consumption in above sub-threshold was much higher.
General leakage reduction sizing techniques were also applied to the majority of components.
The choice of logic style is important for sub-threshold operation.
In the TDTBsubII latch, a new technique is shown to provide system-level capability.
Simulations displayed the capability of TED in sub-threshold.

The layout of TDTBsubI and an adder test circuit were constructed in 65 nm CMOS.
The TDTBsubII latch was not built since it was designed after the chip deadline.
Upon inspection of the chip, it was determined to be inoperative.
This mistake was a result of the manufacturering process and not the design in this work.
ED:2009-10-27
INSSI tietueen numero: 38522
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI