haku: @keyword topografia / yhteensä: 9
viite: 6 / 9
Tekijä:Viljanen, Heikki
Työn nimi:Puolijohdekiteiden topografia röntgendiffraktometrilla
Julkaisutyyppi:Kandidaatintyö
Julkaisuvuosi:2006
Sivut:28      Kieli:   fin
Koulu/Laitos/Osasto:Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto
Oppiaine:
Valvoja:Turunen, Markus
Ohjaaja:
Elektroninen julkaisu: http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201203181602
Sijainti:  
Avainsanat:röntgendiffraktio
topografia
puolijohdekiteet
ED:2006-11-29
INSSI tietueen numero: 32712
+ lisää koriin
INSSI