haku: @keyword kuvantaminen / yhteensä: 12
viite: 6 / 12
Tekijä: | Broas, Mikael |
Työn nimi: | Piipohjaisten MEMS-komponenttien vauriomekanismien tutkimusmenetelmiä |
Julkaisutyyppi: | Kandidaatintyö |
Julkaisuvuosi: | 2011 |
Sivut: | 39 Kieli: fin |
Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkötekniikan korkeakoulu |
Koulutusohjelma: | Elektroniikan ja sähkötekniikan tutkinto-ohjelma |
Oppiaine: | Elektroniikka (S3027) |
Valvoja: | Turunen, Markus |
Ohjaaja: | Hokka, Jussi |
Elektroninen julkaisu: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201305162564 |
Sijainti: | |
Avainsanat: | MEMS pii vaurioanalyysi näytteen valmistelu kuvantaminen |
ED: | 2012-02-27 |
INSSI tietueen numero: 44031
+ lisää koriin
INSSI