haku: @keyword kuvantaminen / yhteensä: 12
viite: 6 / 12
| Tekijä: | Broas, Mikael |
| Työn nimi: | Piipohjaisten MEMS-komponenttien vauriomekanismien tutkimusmenetelmiä |
| Julkaisutyyppi: | Kandidaatintyö |
| Julkaisuvuosi: | 2011 |
| Sivut: | 39 Kieli: fin |
| Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkötekniikan korkeakoulu |
| Koulutusohjelma: | Elektroniikan ja sähkötekniikan tutkinto-ohjelma |
| Oppiaine: | Elektroniikka (S3027) |
| Valvoja: | Turunen, Markus |
| Ohjaaja: | Hokka, Jussi |
| Elektroninen julkaisu: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201305162564 |
| Sijainti: | |
| Avainsanat: | MEMS pii vaurioanalyysi näytteen valmistelu kuvantaminen |
| ED: | 2012-02-27 |
INSSI tietueen numero: 44031
+ lisää koriin
INSSI