haku: @author Rajala, Jari / yhteensä: 2
viite: 2 / 2
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Rajala, Jari
Työn nimi:Valolle altistetun yksikiteisen piin degradaatio
Julkaisutyyppi:Kandidaatintyö
Julkaisuvuosi:2012
Sivut:15      Kieli:   fin
Koulu/Laitos/Osasto:Sähkötekniikan korkeakoulu
Koulutusohjelma:Elektroniikan ja sähkötekniikan koulutusohjelma
Oppiaine:Elektroniikka   (S3027)
Valvoja:Turunen, Markus
Ohjaaja:Lindroos, Jeanette
Elektroninen julkaisu: http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201301161144
Sijainti:  
Avainsanat:Yksikiteinen pii
Degradaatio
mikro-PCD
ED:2013-05-21
INSSI tietueen numero: 46459
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI