haku: @keyword elektroniikka / yhteensä: 33
hakutulos-lista
viite: 8 / 33
« edellinen | seuraava »
Tekijä:Skogström, Lasse
Työn nimi:A Novel Approach for Rapid Reliability Assessment of Power Electronics under Combined Vibration and Thermal Loading
Uusi menetelmä nopeaan tehoelektroniikan luotettavuusarviointiin yhdistetyssä tärinä- ja lämpötilarasituksessa
Julkaisutyyppi:Diplomityö
Julkaisuvuosi:2014
Sivut:viii + 88      Kieli:   eng
Koulu/Laitos/Osasto:Sähkötekniikan korkeakoulu
Oppiaine:Elektroniikka ja sovellukset   (S3007)
Valvoja:Paulasto-Kröckel, Mervi
Ohjaaja:Li, Jue
Elektroninen julkaisu: http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201405131795
OEVS:
Sähköinen arkistokappale on luettavissa Aalto Thesis Databasen kautta.
Ohje
sulje

Digitaalisten opinnäytteiden lukeminen Aalto-yliopiston Harald Herlin -oppimiskeskuksen suljetussa verkossa

Oppimiskeskuksen suljetussa verkossa voi lukea sellaisia digitaalisia ja digitoituja opinnäytteitä, joille ei ole saatu julkaisulupaa avoimessa verkossa.

Oppimiskeskuksen yhteystiedot ja aukioloajat: https://learningcentre.aalto.fi/fi/harald-herlin-oppimiskeskus/

Opinnäytteitä voi lukea Oppimiskeskuksen asiakaskoneilla, joita löytyy kaikista kerroksista.

Kirjautuminen asiakaskoneille

  • Aalto-yliopistolaiset kirjautuvat asiakaskoneille Aalto-tunnuksella ja salasanalla.
  • Muut asiakkaat kirjautuvat asiakaskoneille yhteistunnuksilla.

Opinnäytteen avaaminen

  • Asiakaskoneiden työpöydältä löytyy kuvake:

    Aalto Thesis Database

  • Kuvaketta klikkaamalla pääset hakemaan ja avaamaan etsimäsi opinnäytteen Aaltodoc-tietokannasta. Opinnäytetiedosto löytyy klikkaamalla viitetietojen OEV- tai OEVS-kentän linkkiä.

Opinnäytteen lukeminen

  • Opinnäytettä voi lukea asiakaskoneen ruudulta tai sen voi tulostaa paperille.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi tallentaa muistitikulle tai lähettää sähköpostilla.
  • Opinnäytetiedoston sisältöä ei voi kopioida.
  • Opinnäytetiedostoa ei voi muokata.

Opinnäytteen tulostus

  • Opinnäytteen voi tulostaa itselleen henkilökohtaiseen opiskelu- ja tutkimuskäyttöön.
  • Aalto-yliopiston opiskelijat ja henkilökunta voivat tulostaa mustavalkotulosteita Oppimiskeskuksen SecurePrint-laitteille, kun tietokoneelle kirjaudutaan omilla Aalto-tunnuksilla. Väritulostus on mahdollista asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Väritulostaminen on maksullista Aalto-yliopiston opiskelijoille ja henkilökunnalle.
  • Ulkopuoliset asiakkaat voivat tulostaa mustavalko- ja väritulosteita Oppimiskeskuksen asiakaspalvelupisteen tulostimelle u90203-psc3. Tulostaminen on maksullista.
Sijainti:P1 Ark Aalto  1051   | Arkisto
Avainsanat:reliability
combined loading
electronics
lifetime
luotettavuus
yhdistelmätestaus
elektroniikka
elinikä
Tiivistelmä (fin):Tässä työssä on kehitetty menetelmä kattavan luotettavuusarvioinnin suorittamiseen.
Menetelmä on suunniteltu tehoelektroniikalle yhdistettyyn tärinä- ja lämpörasitusympäristöön.
Se perustuu kokeellisiin mittauksiin, Weibull malliin ja muokattuun Coffin-Mansonin elinikäennusteeseen.
Menetelmän avulla voidaan ennustaa komponentin tai järjestelmän elinikä tärinärasituksessa eri lämpötiloissa.
Se on suunniteltu erityisesti teollisuussovelluksiin, joissa kehityssyklit ovat tavallisesti nopeita.
Menetelmän kehittämiseksi ja arvioimiseksi luotiin elinikäennuste ja suoritettiin vikaantumisanalyysi kokeellisesti testatulle D2PAK tehoelektroniikkakomponentille.
Tulosten perusteella analysoitiin lämpötilan vaikutusta vikaantumiseen.
Lämpötilalla on tunnetusti merkittävä vaikutus materiaaliominaisuuksiin.
Materiaaliominaisuuksien muutos voi muuttaa systeemin mekaanista vastetta, ja täten merkittävästi vaikuttaa elinikään tärinärasituksessa.
Lämpötilan muutos voi jopa johtaa uusiin vikaantumismekanismeihin.
Näiden vaikutusten johdosta on olennaista ymmärtää lämpötilan vaikutus elinikään tärinärasituksessa.
Ulkoilmaympäristöihin suunnitelluissa sovelluksissa, kuten ajoneuvojen voimansiirtojärjestelmissä, ympäristö voi olla huomattavasti perinteisiä sisätilasovelluksia rankempi.
Haastavan ympäristön lisäksi näissä sovelluksissa vaaditaan pitkäaikaista luotettavuutta, esim. ajoneuvosovelluksissa tavallisesti vähintään kymmenen vuotta.
Lämpösyklit ja korkeat käyttölämpötilat yhdistettyinä tärinään ja iskuihin muodostavat merkittävän uhan luotettavuudelle.
Lisäksi kosteus ja epäpuhtaudet tekevät ympäristöstä entistä haastavamman.
Tämän työn tulokset osoittavat, että on mahdollista luoda kattava ja tarkka luotettavuusarvio seuraamalla luotuja ohjeita.
Tiivistelmä (eng):This thesis develops a method for comprehensive reliability assessment.
The method is developed to assess the lifetime of power electronics under concurrent vibration and thermal loading.
The approach is based on experimental reliability tests, Weibull model, and a simple modified Coffin-Manson lifetime prediction.
The method can be used to predict component or system lifetime under vibration excitation at different temperatures.
It is designed especially for industrial applications, where development cycles are short.
To validate and improve the developed approach, lifetime prediction for experimentally tested D2PAK power electronics component was generated, accompanied by an in-depth failure analysis.
Based on these results the influence of temperature on the failure characteristics was analyzed.
It is widely recognized that the temperature has a significant effect on the material properties.
The changing material properties can affect the mechanical response of the system, thus substantially influencing the vibration lifetime.
Different temperatures can even induce new failure modes.
Because of these effects, comprehensive understanding of temperature's influence on vibration lifetime is vital.
Outdoor environments for applications, such as automotive drive systems, are notably harsher compared to traditional indoor applications.
In addition to harsh environment, also long-term reliability is required; e.g., the lifetime of automotive electronics is often standardized to be at least ten years.
Temperature cycles and high operational temperatures combined with vibration and shock impacts can pose a significant reliability threat.
Furthermore, moisture and contaminants make the environment even more hostile for the electronics.
Results obtained in this study, indicate that rapid, comprehensive and accurate reliability assessment can be conducted by following the provided guidelines.
ED:2014-05-18
INSSI tietueen numero: 49030
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI