haku: @keyword testing / yhteensä: 120
viite: 4 / 120
| Tekijä: | Seppälä, Veera Inkeri |
| Työn nimi: | Improving the Utilization of Statistical Failure Models in Component Level Testing |
| Tilastollisten vikamallien käytön kehittäminen komponenttien testauksessa | |
| Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
| Julkaisuvuosi: | 2016 |
| Sivut: | 72+9 Kieli: eng |
| Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkötekniikan korkeakoulu |
| Oppiaine: | Elektroniikka ja sovellukset (S3007) |
| Valvoja: | Paulasto-Kröckel, Mervi |
| Ohjaaja: | Kärkäs, Reijo |
| Elektroninen julkaisu: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201606172445 |
| Sijainti: | P1 Ark Aalto 4262 | Arkisto |
| Avainsanat: | PAT MEMS statistical screening testing tilastollinen kritisointi testaus |
| ED: | 2016-07-17 |
INSSI tietueen numero: 53877
+ lisää koriin
INSSI