haku: @keyword luotettavuus / yhteensä: 126
viite: 1 / 126
« edellinen | seuraava »
| Tekijä: | Banh, Cuong |
| Työn nimi: | MEMS-komponenttien luotettavuus ja vaurioanalyysi |
| The reliability and failure analysis of MEMS components | |
| Julkaisutyyppi: | Diplomityö |
| Julkaisuvuosi: | 2016 |
| Sivut: | (7) + 91 Kieli: fin |
| Koulu/Laitos/Osasto: | Sähkötekniikan korkeakoulu |
| Oppiaine: | Elektroniikka ja sovellukset (S3007) |
| Valvoja: | Paulasto-Kröckel, Mervi |
| Ohjaaja: | Vuorinen, Vesa |
| Elektroninen julkaisu: | http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201611025477 |
| Sijainti: | P1 Ark Aalto 5069 | Arkisto |
| Avainsanat: | Micro-Electro-Mechanical System MEMS market MEMS devices environment factors reliability failure analysis mikroelektromekaaninen järjestelmä luotettavuus vaurioanalyysi ympäristörasitustekijät MEMS-markkinat |
| ED: | 2016-11-13 |
INSSI tietueen numero: 55008
+ lisää koriin
« edellinen | seuraava »
INSSI